微电子工业全球标准
显示1 - 1的1个文档。
这是一种加速应力测试方法,用于确定样本估计及其对数正态分布的中失效时间、西格玛和早期百分位数的置信极限,用于表征受恒定电流密度和温度应力影响的等效金属线的电迁移失效时间分布。故障的定义是被测线路的电阻预先选定的小幅增加。给出了完整的、单一的、右截尾失效时间数据的分析方法。附录a提供了完整和右截尾数据的示例计算。分析不适用于失效分布不能用单一的对数正态分布来描述的情况。
委员会(s):JC-14,jc - 14.2
免费下载。登记或登录必需的。