微电子工业全球标准
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标题 | 文档# | 日期 |
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加速防潮-无偏置 |
JESD22-A118B.01 | 2021年5月 |
无偏置HAST是为了评估非密封封装固态器件在潮湿环境中的可靠性而进行的。这是一种高度加速的测试,它利用非凝结条件下的温度和湿度来加速湿气通过外部保护材料(密封剂或密封件)或沿着外部保护材料与穿过它的金属导体之间的界面渗透。本试验中不应用偏置,以确保可能被偏置掩盖的失效机制能够被揭示(例如,电偶腐蚀)。此测试用于识别包内部的故障机制,并且具有破坏性。 委员会(s):jc - 14.1 |
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加速防潮-无偏置高压灭菌器状态:重申2021年1月 |
JESD22-A102E | 2015年7月 |
该测试允许用户评估非密封封装的固态器件的防潮性。无偏压釜试验是在湿气凝结或湿气饱和蒸汽环境下,评估非密封封装固态器件的耐湿气完整性。它是一种高度加速的测试,在凝结条件下利用压力、湿度和温度条件,加速水分通过外部保护材料(密封剂或密封件)或沿着外部保护材料与穿过它的金属导体之间的界面渗透。此测试用于识别包内部的故障机制,并且具有破坏性。 委员会(s):jc - 14.1 |