微电子工业全球标准
显示2个文档中的1 - 2个。
本文档提供了具有栅极氧化物或栅极电介质的基于碳化硅(SiC)的功率器件的栅极可靠性和寿命测试评估指南。
委员会(s):jc - 70,jc - 70.2
免费下载。登记或登录必需的。
本文档详细阐述了JEP184中给出的关于设备参数在静态条件和接近开关条件下的长期稳定性的信息。