js - 002 - 2018
发布日期:2019年1月
本标准根据器件和微电路暴露于定义的场致带电器件模型(CDM)静电放电(ESD)对损坏或退化的敏感性(敏感性)建立了测试、评估和分类器件和微电路的程序。所有封装半导体器件、薄膜电路、表面声波(SAW)器件、光电子器件、混合集成电路(hic)和包含任何这些器件的多芯片模块(MCMs)都应根据本标准进行评估。该测试方法结合了JEDEC JESD22-C101和ANSI/ESD S5.3.1的主要特点。
委员会(s):jc - 14.1
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