用于测量具有暴露冷却表面的发光二极管的实际热阻和阻抗的电气测试方法的实施

JESD51-51A

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本文件的目的是说明如何通过物理测量最好地识别led热指标和其他热相关数据，使用为封装半导体器件热测试定义的成熟测试程序(由JEDEC发布和维护)和为光源特性定义的测试程序(由CIE -国际照明委员会发布和维护)。

委员会(s):JC-15

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