半导体器件中阿尔法粒子和地球宇宙射线诱发软误差的测量和报告

JESD89B

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本规范定义了集成电路地面软误码率(SER)测试和结果报告的标准要求和程序。描述了实时(非加速)和加速测试过程。在地面和地面高度，主要的辐射源包括来自封装和芯片材料中的放射性同位素杂质的宇宙射线辐射和α粒子辐射。对deviceís SER的全面评估是完整的，只有当完成了非加速测试，或者已经获得了α粒子成分和宇宙辐射成分的加速SER数据。

委员会(s):JC-13, jc - 13.4

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