重离子辐照下半导体器件单事件效应管理试验程序:

JESD57A

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本测试方法定义了地面模拟和单事件效应(SEE)的要求和程序，以及集成电路测试方法的实施。当使用回旋加速器或范德格拉夫加速器时，此标准有效。被测微电路必须分离。这些设施中使用的离子的原子序数为Z > 2。它不适用于使用质子、中子或其他较轻粒子的SEE测试。本标准旨在消除方法使用者和测试设备之间的任何误解，尽量减少延误，并促进测试和测试数据的标准化。

委员会(s):jc - 13.4

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