微电子元件静电放电耐受阈值的场致电荷器件模型试验方法

JESD22-C101F

状态:取消> 2020年2月

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本测试方法中的材料已被2019年1月发布的JS-002-2018所取代，后者又被2023年1月发布的JS-002-2022所取代。

委员会(s):JC-14, jc - 14.1