微电子工业全球标准
该测试用于确定偏置条件和温度随时间对固态器件的影响。它以一种加速的方式模拟设备的运行状态,主要用于设备鉴定和可靠性监测。一种使用短时间的高温偏置寿命形式,通常称为老化,可用于筛选与婴儿死亡率相关的故障。burn-in的详细用法和应用不在本文档的讨论范围之内。
委员会(s):JC-14, jc - 14.1
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