微电子工业全球标准
本白皮书介绍了系统ESD现场事件和空气放电测试方法的最新知识。IEC 61000-4-2(2008)和ISO 10605 ESD标准的测试经验表明,测试方法及其范围有一系列不同的解释。这往往会导致测试方法的误用和测试结果的高不确定性。本白皮书旨在解释所观察到的问题,并对ESD测试标准提出改进建议,并使之与SEED IC/PCB协同设计方法相关联。
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