半导体器件的失效机制和模型

JEP122H

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本出版物提供了故障机制及其相关活化能或加速因子的列表，当唯一可用的数据是基于在加速压力测试条件下执行的测试时，可用于估算系统故障率。要使用的方法是故障率和方法。该出版物还为可靠性建模参数的选择提供了指导，即函数形式、表观热活化能值和对电源电压、衬底电流、电流密度、栅极电压、相对湿度、温度循环范围、移动离子浓度等应力的敏感性。

委员会(s):jc - 14.2

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