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2021年2月
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2021年1月
JEDEC宽带隙功率半导体委员会发布GaN器件开关可靠性评估程序指南
2020年2月
JEDEC宽带隙功率半导体委员会发布了第一份文件:GaN HEMT动态电阻测试方法
2019年2月
新JEDEC宽带隙功率半导体委员会邀请业界参与
2017年12月
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