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这是对JESD204C的一个小的编辑更改，详细信息可以在附件a中找到。该标准描述了数据转换器和逻辑设备之间的序列化接口。它包含规范信息，使设计人员能够实现与本文档所涵盖的其他设备通信的设备。信息部分包括澄清和举例说明标准。项目192.02 b。

本指南描述了在横向GaN功率转换器件的数据表中指定瞬态脱态耐电压稳健性指示器的不同技术。本指南不传达任何提出的规范类型的首选项，也不处理数据表的格式。本指南既不指示也不要求在生产测试中使用数据表参数，也不指定如何获得这些值。

本标准规定了备用能源模块(BEM)的功能要求，本标准以下简称BEM。本模块应使用为行业定义存储阵列控制卡和NVDIMM-n提供备用电源。除非另有说明，所有标准适用于所有操作条件。2279.03项

这种检查方法适用于产品半导体晶圆和芯片组装前。该测试方法定义了执行标准化外部视觉检查的要求，是一种非侵入性和非破坏性的检查，可用于资格鉴定、质量监控和批量验收。

本标准定义了用于DDR2 RDIMM应用的SSTU32866注册缓冲区的直流接口参数、开关参数和测试负载的标准规格。其目的是为SSTU32866(见注)逻辑器件提供一个标准，以实现一致性、源的多样性、消除混淆、简化器件规范和易于使用。这是一个较小的编辑修改，如附件a所示。

指示器:N / A
项目:11.5-997，访问CO-036B的STP文件
交叉引用:无

指示器:PSXC-L6_I1p2-R11p6x5p85Z2p07-R0p3x0p6ET0p07
项目:11.14-198，访问SO-028A的STP文件
交叉引用:无

本标准定义了用于DDR2 RDIMM应用的SSTUA32866注册缓冲区的直流接口参数、开关参数和测试负载的标准规格。其目的是为SSTUA32866(见注)逻辑器件提供一个标准，以实现一致性、源的多样性、消除混淆、简化器件规范和易于使用。这是一个较小的编辑修改，如附件a所示。

该标准提供了适合在DDR2 rdimm上使用的28位1:2注册驱动程序的功能定义、ballall配置和包轮廓、信号定义和输入/输出特性。SSTU32865将两个SSTU32864器件(在JESD82-7中定义)的功能等效集成到单个器件中，从而通过四种配置缓解了布局和单板设计的限制，特别是在高密度rdimm(如双排)上。此外，还提供了可选的奇偶校验函数的使用，允许在其22个数据输入中检测和报告奇偶校验错误。JESD82-9指定了一个160针薄轮廓，细间距球栅阵列(TFBGA)封装。这是一个较小的编辑修改，如附件a所示。

该测试用于确定固态易失性存储器阵列和双稳态逻辑元件(例如，触发器)的地面宇宙射线软误差率(SER)灵敏度，通过测量设备在已知通量的中子或质子束中照射时的误差率。该加速试验的结果可用于在给定的地球宇宙射线辐射环境下估计地球宇宙射线诱导的SER。该测试不能用于投射α粒子诱导SER。

本规范定义了集成电路地面软误码率(SER)测试和结果报告的标准要求和程序。描述了实时(非加速)和加速测试过程。在地面和地面高度，主要的辐射源包括来自封装和芯片材料中的放射性同位素杂质的宇宙射线辐射和α粒子辐射。对deviceís SER的全面评估是完整的，只有当完成了非加速测试，或者已经获得了α粒子成分和宇宙辐射成分的加速SER数据。

本文档定义了用于DDR5 RDIMM和LRDIMM应用程序上驱动地址和控制网络的DDR5注册时钟驱动程序(RCD)定义的DC接口参数、开关参数和测试负载的标准规范。DDR5RCD01设备ID为DID = 0x0051。

本文档明确了可用于各种SSD设备的机框的外形:上、下机框的轮廓，3个用于安装在系统上的螺钉孔，以及上机框上用于锁住连接器的两个卡孔。318.06项目。这是一个小的编辑修订，详情见附件D。

本出版物定义了精确复制过程(CEP)匹配、实时过程控制、监控和CEP持续评估的需求。给出了对输入、过程控制、程序、过程指标、人为因素、设备/基础设施和匹配输出的关键要素要求。制造商、供应商及其客户可以使用这些方法在业务协议的约束下定义工艺转移的要求。

该测试用于确定固态易失性存储器阵列和双稳态逻辑元件(例如触发器)的软错误率(SER)，以纠正在地面环境中使用的只需重新读取或重写即可的错误。它模拟设备的运行条件，并用于鉴定、表征或可靠性监测。本试验在环境条件下进行，没有人为引入辐射源。