WARRENDALE, Pa.

美国弗吉尼亚州阿灵顿- 2016年3月24日 - JEDEC固态技术协会，微电子工业标准制定的全球领导者，今天宣布出版JESD243:假冒电子零件:制造商的防扩散。本标准确定了减少和/或避免以下类型的假冒产品的最佳商业实践:单片微电路、混合微电路和分立半导体产品 2016年3月24日，星期四 Emilyd /新闻/ pressreleases / new-jedec-standard-sets-best-practices-mitigating-counterfeit-electronic-parts //www.ljosalfur.com/standards-documents/docs/jesd243

本标准确定了所有电子部件制造商(包括但不限于原始部件制造商(ocm)、授权售后市场制造商和其他以自己的标识、名称或商标生产电子部件的公司)减少和/或避免假冒产品的最佳商业实践。本标准适用的产品类型仅限于单片微电路、混合微电路和分立半导体产品 2016年3月8日，星期二 juliec /标准文件/ docs / jesd243 //www.ljosalfur.com/standards-documents/docs/jep163 本出版物是一份指南，帮助集成电路制造商定义其产品的老化和寿命测试条件，以满足MIL-PRF-38535的质量和可靠性性能要求 2015年9月21日，星期一 juliec /标准文件/ docs / jep163 //www.ljosalfur.com/news/pressreleases/new-jedec-subcommittee-evaluate-technologies-harsh-environments

美国弗吉尼亚州阿灵顿- 2014年9月9日 - JEDEC固态技术协会，微电子工业标准制定的全球领导者，今天宣布其JC-13政府联络委员会成立了一个小组委员会，专注于评估新的和新兴的电子设备技术，以潜在的未来插入军事、航空航天和其他特殊用途应用 2014年9月9日星期二 Emilyd /新闻/ pressreleases / new-jedec-subcommittee-evaluate-technologies-harsh-environments //www.ljosalfur.com/news/pressreleases/jedec-publishes-new-test-standard-measure-effects-proton-radiation-electronic-dev 美国弗吉尼亚州阿灵顿- 2013年10月16日- - JEDEC固态技术协会，微电子工业标准开发的全球领导者，今天宣布发布JESD234电子器件中质子辐射单事件效应测量测试标准 2013年10月16日，星期三 Emilyd /新闻/ pressreleases / jedec-publishes-new-test-standard-measure-effects-proton-radiation-electronic-dev //www.ljosalfur.com/standards-documents/docs/jesd234 本测试标准定义了单事件效应(SEE)电子设备40 ~ 500mev质子辐照的要求和程序，并报告结果。质子通过直接电离和间接电离都能引起SEE，但在该能量范围内，间接电离将是SEE的主要原因[1-3]。间接电离是由质子/材料核反应的次级粒子产生的，其中材料是Si或半导体中存在的任何其他元素 2013年10月9日，星期三 juliec /标准文件/ docs / jesd234 //www.ljosalfur.com/news/pressreleases/jedec-announces-publication-inspection-criteria-microelectronic-packages-and-cove 美国弗吉尼亚州阿灵顿- 2011年6月21日- - JEDEC固态技术协会，微电子工业标准制定的全球领导者，今天宣布发布了对其微电子封装和盖板检验标准JESD9B的重大修订。修订后的标准可从JEDEC的网站免费下载://www.ljosalfur.com/standards-documents/results/jesd9b.

本标准一般适用于气体比例仪器及其在测量alpha发射率小于10的材料中的使用a·khr^-1·cm^-2。主要的焦点将是半导体制造中使用的材料。本文档的目的是指定测量半导体制造中使用的材料的alpha发射率的推荐方法 2011年5月3日，星期二 juliec /标准文件/ docs / jesd221 //www.ljosalfur.com/standards-documents/docs/jesd213a

本文档主要适用于提供电子元器件的原始设备制造商，以及作为平台系统集成商的原始设备制造商。它旨在由ocm交付之前应用，可用于OEM系统工程师和采购活动，以及美国政府国防部系统工程师，采购活动和维修中心 2010年3月25日，星期四 juliec /标准文件/ docs / jesd213a //www.ljosalfur.com/news/pressreleases/jedec-and-sae-international-亚博收网行动join-forces-set-fiber-optic-system-test-qualification

美国弗吉尼亚州阿灵顿- 2009年12月16日 - JEDEC固态技术协会，微电子工业标准开发的全球领导者，和国际SAE ，汽车、航空航天和商用车行业的工程师和相关技术专家的全球协会，今日宣布，双方已签署一份谅解备忘录，就光纤系统测试标准的开发进行合作。苛刻环境

本标准适用于静电放电大于100伏的人体模型(HBM)和200伏的带电器件模型(CDM)易损坏的器件 2009年9月30日，星期三 管理 /标准文件/ docs / jesd - 625 //www.ljosalfur.com/standards-documents/docs/jesd-16 修订了本标准，以澄清估计AOQ所需的假设，修订了最小样本量算法，解决了小样本量问题，并提供了组合组进行AOQ估计的方法。推导用于AOQ估计的组合组的任何新方法。本文件中引入的任何新方法的推导已在附件中提供。统计方法是基于置信区间统计。当不满足最小样本量标准时，建立了报告AOQ的程序 2009年9月30日，星期三 管理 /标准文件/ docs / jesd-16 //www.ljosalfur.com/node/5501 在2009年5月，新的JC-13.6军事和空间应用光纤系统小组委员会的第一次会议吸引了37名代表政府机构、航空航天公司和供应商的与会者。小组委员会打算将重点放在为军事和空间应用发布全面的测试和鉴定标准，以及促进世界各地机构、用户和供应商之间的公开对话，以跟踪新的能力，并根据需要预测测试和鉴定标准的修改 星期五，2009年9月18日 管理 /节点/ 5501 //www.ljosalfur.com/standards-documents/docs/jesd-93 本规范规定了混合微电路、射频/微波混合微电路和MCMs(以下简称器件)的一般要求。具体设备的详细性能要求在适用的设备获取文件中规定。

重申2003年9月